高速CT型X線自動検査装置VT-X700：オムロン制御機器
- 2012年1月5日(木)
- ネプコン ジャパン2012内「第29回エレクトロテスト ジャパン」に出展します。
会期：2012年1月18日(水)～20日(金) 10:00〜18:00 （20日のみ17:00終了）
会場：東京ビッグサイト
■出展商品
次世代リフロー後外観検査装置：VT-S720
高速X線CT型自動検査装置：VT-X700
■ブースNo.
東ホール No.44-46
新搭載の画像処理技術による検査の垂直立ち上げと，先進の安定化技術。その全貌を体感してください。
CT撮像+検査アルゴリズムによって、検査断面の分離・特定まで踏み込んだ細やかな検査基準の作成を可能にしました。的確な良否判定が可能で、見過ぎや不良品の見逃しを解消します。
3Dデータ中の検査箇所特定を高精度に実現し、実装ラインにおけるインライン全数自動検査と安定した検査品質の両立が可能となりました。
インライン全数自動検査を実現できる、高速性能を追求。240mm×160mmの基板で43秒という高速性能で、要求される生産タクトを楽々クリア。インラインでの全数自動検査を実現しました。
世界最速インライン高速CTの実力
オムロンが開発した高速撮像技術・高速再構成技術により、生産現場においてインラインで全数検査を可能にする高速性を実現。FOV(Field Of View)５秒の実力を、ぜひ動画で体感してみてください。
クリアで鮮明な3次元CT画像
オムロン独自のX線CT撮像技術により、高精度な高画質な３Ｄ画像の作成を可能にしました。見えない部分の形状が見えることで、断面での検査でな ければ難しかった検査も的確に行えます。
■撮像・検査の高速化によるインライン全数自動検査の実現
X線検査装置VT-X700のタクト高速化技術により弊社のラインタクト内で1台当り1000バンプ以上あるμCSPのはんだ接合状態をインラインで全数自動 検査することが可能です。
更に検査と並行して全3Dデータをホストに高速転送できるため、タクトを落とすこと無く3Dデータの保存が可能です。
【リンク集】
