不良画像解析 DEFECT ANALYSISX線検査装置VT-X900 不良画像解析:オムロン検査装置

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不良画像解析

Voxelデータ(3D形状データ)を元にレンダリング画像の作成が可能(ソフトウェアオプション)。バンプの形状や不良の状態を非破壊で詳細に観察することが可能です。

OMRON高精度X線CT撮像が、基板検査の効率を変革します。X線検査装置VT-X900カタログ請求

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